無(wú)塵手套檢測(cè)幾種方法？
    在生產(chǎn)過(guò)程中由于對(duì)潔凈度要求十分嚴(yán)格，所以需要穿戴無(wú)塵手套，大部分會(huì)直接接觸產(chǎn)品，關(guān)于IEST標(biāo)準(zhǔn)就要求對(duì)生產(chǎn)時(shí)所使用的的手套在使用前必須進(jìn)行無(wú)塵處理及測(cè)試合格后方可使用。下面是手套常用的幾種測(cè)試方法：

    
    由于對(duì)產(chǎn)品的影響多是微觀因素，一些肉眼看不見(jiàn)的微生物、塵埃粒子等，所以測(cè)試手套也是從微觀方面做出分析：

    1、LPC測(cè)試(液態(tài)塵粒測(cè)試)：LPC測(cè)試是將被測(cè)物浸泡于DI水中，再進(jìn)行60秒的超聲波震蕩，將附著在被測(cè)物上的塵粒溶解于DI水中，在計(jì)算DI水中液態(tài)塵粒的數(shù)量的方法。該測(cè)試是檢查手套潔凈度的一種重要測(cè)試方法，主要測(cè)手套會(huì)跌落多少個(gè)產(chǎn)品有影響的塵埃粒子，如：磁頭行業(yè)，**TP對(duì)于0.5um的塵粒大于或等于不能超過(guò)3000個(gè)每平方厘米（@0.5um<=3000counts/cm^2）。

    
    2、NVR(非揮發(fā)性殘留物)測(cè)試：是測(cè)試手套上非揮發(fā)性殘留物含量的一種測(cè)試方法，測(cè)試時(shí)，用一定量的溶劑對(duì)被測(cè)試部位進(jìn)行淋洗或浸泡，收集淋洗或浸泡后的溶液使溶劑揮發(fā)，用微量天平稱量殘留物，即可得出手套上非揮發(fā)性殘留物的含量.NVR超標(biāo)可知手套表面有非揮發(fā)性殘留物污染。在電腦硬盤行業(yè)，一般規(guī)定NVR<20ug/cm^2。

    
    3、FTIR（傅立葉紅外線光譜）測(cè)試：由于產(chǎn)品的要求，潔凈室不允許有硅油、氨基化合物、DOP等物質(zhì)存在，因?yàn)樵撔┪镔|(zhì)會(huì)影響到產(chǎn)品的質(zhì)量。因此，對(duì)手套必須進(jìn)行FTIR測(cè)試。測(cè)試時(shí)，用一定量的溶劑對(duì)被測(cè)試部位進(jìn)行淋洗或浸泡，收集淋洗或浸泡后的溶液使溶劑揮發(fā)，將殘留物作紅外線光譜分析。這種方法可以分析出手套上是否殘留有硅油、氨基化合物、DOP等。（重要提示：該測(cè)試的結(jié)果如果合格，則表示上述三種殘留物沒(méi)有超過(guò)敏感線，并不表示完全沒(méi)有）。

   
    4、IC（離子測(cè)試）：是將被測(cè)物浸泡于DI水中，再進(jìn)行超聲波震蕩，將附著在被測(cè)物上的無(wú)機(jī)陰陽(yáng)離子溶解于DI水中，然后再進(jìn)行色譜分析的方法。IC測(cè)試可測(cè)出被測(cè)物上陰陽(yáng)離子的種類，及每種離子的含量。該測(cè)試*常監(jiān)控的離子是Cl-、NO3-、SO4-、PO4-等，一般總重量不能超過(guò)1.0(Total<1.0)。

    
   5、GC（有機(jī)揮發(fā)物色譜測(cè)試）：是用來(lái)分析手套上有機(jī)污染物的種類和含量的一種方法。測(cè)試時(shí)，將手套加溫到一定溫度，使有機(jī)污染物揮發(fā),將揮發(fā)出來(lái)的氣體收集起來(lái)，進(jìn)行色譜分析，可得出有機(jī)污染物的種類和含量，當(dāng)GC測(cè)試超標(biāo)時(shí)，說(shuō)明手套上的有機(jī)污染物超標(biāo)。一般在磁頭行業(yè)其潔凈標(biāo)準(zhǔn)控制在10ug/g(Total：GC<10ug/g)。

    以上測(cè)試是國(guó)內(nèi)外中大型公司*常見(jiàn)的幾種測(cè)試方法。同時(shí)IEST還規(guī)定了如硫化氫測(cè)試、耐腐蝕測(cè)試、灰燼測(cè)試等，使用廠商可以根據(jù)產(chǎn)品的需要做出適當(dāng)?shù)倪x擇。以減少會(huì)產(chǎn)品的污染。